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NEC NEC情報システムズ
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製造業ソリューション(設計)

設計業務サポートで市場への製品投入をよりスピーディに

お問い合せ・資料請求

ソリューション概要

設計段階でのEMI*対策やCAE解析、そして設計情報共有など設計業務トータルサポート。 製品製造において設計は重要な位置づけにあり、設計のミスは製造段階において致命的なものとなってしまいます。 特に電磁放射妨害(EMI)対策は、設計の初期段階で行うことよりに、試作後に要するEMI対策の時間を短縮し、コストも削減できます。

*EMI(Electro-Magnetic Interference):
電磁波妨害、電磁波干渉、電磁波障害。電子機器が放射する電磁波により、外部の電子機器に対して誤動作等の悪影響を与えること。

特長(メリット)

設計効率の向上、設計コストの削減、認定取得など、NECおよびNECグループでの活用により実証されています。 その設計・技術ノウハウを最大限に発揮させた、世界に通用する高品質なソリューションをご提供します。

電気系設計

電子機器の高速化に伴って問題となるEMIを解決支援する設計ツールや、設計情報共通プラットフォーム、業務プロセス及び作業 フェーズごとの進捗の確認、アウトプット作成状況確認、文書管理・保管など、設計業務を進める上で必要となる情報の共有化を実現する製品・サービスをご提供。

50×50様々なツールを用いて設計をトータルにサーポート

50×50設計の初期段階からの電磁放射妨害(EMI)対策を可能にします

50×50LSIの誤動作を防ぐためのターゲットインピーダンスを満足するための設計を支援します

50×50きめ細かな自動処理でLSIパッケージ層数を高精度かつ短時間で見積もり可能

50×50部品に関する多彩な情報の一元管理、情報収集/配信を効率化

50×50部品に関する多彩な情報の一元管理、情報収集/配信を効率化

50×50測定データの収集から解析までを効率化、半導体素子の設計・開発期間を短縮

50×50プリント基盤設計におけるCADデータの高速な検索、表示で、 検図作業を効率化

機械系設計(CAE)

製造業の設計業務において不可欠なCAE技術をご提供。各解析には世界的に定評のある解析プログラムを駆使し、 ご指定条件の解析だけではなく、形状、配置などの最適化、適切な材料についてのご提案も可能です。

50×50CAE技術をご提供し、製品開発の期間短縮、コスト削減、品質向上を実現

このようなお悩みを解決します

導入事例

NEC内事業部の導入事例

提供内容/構成内容

お送りする資料には全ソリューションの詳細が記載されています。

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なぜNEC情報システムズを選ぶのか?

Spiral Max世界規模の「NEC」および「NECグループ」で培った豊富なSI経験・ノウハウから、私たちは「SpiralMax」というコンセプトに行き着きました。

当社の商品/サービス提供モデル (SpiralMaxコンセプト)

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